Dosya:Leiterbahn ausfallort elektromigration.jpg
Daha yüksek çözünürlüğe sahip sürüm bulunmamaktadır.
Leiterbahn_ausfallort_elektromigration.jpg ((512 × 512 piksel, dosya boyutu: 65 KB, MIME tipi: image/jpeg))
 | Bu dosya Wikimedia Commons'ta bulunmaktadır. Dosyanın açıklaması aşağıda gösterilmiştir. Commons, serbest/özgür telifli medya dosyalarının bulundurulduğu depodur. Siz de yardım edebilirsiniz. |
| Açıklama |
Deutsch: Aufnahme eines Ausfallortes verursacht durch Elektromigration in einer Kupferleiterbahn unter dem Rasterelektronenmikroskop (REM). Die Passivierung wurde vorher durch w:de:Plasmaätzen (RIE) und w:de:Fluorwasserstoffsäure (HF) entfernt. Die Ätzprozesse sind dabei nicht erprobt gewesen und beruhen auf Versuchen das bestmögliche Resultat zu erlangen.
|
| Kaynak | Mit dem Rasterelektronenmikroskop aufgenommen |
| Yazar | Patrick-Emil Zörner |
| Diğer sürümler | keine bekannt! |
|
Bu belgenin GNU Özgür Belgeleme Lisansı, Sürüm 1.2 veya Özgür Yazılım Vakfı tarafından yayımlanan sonraki herhangi bir sürüm şartları altında bu belgenin kopyalanması, dağıtılması ve/veya değiştirilmesi için izin verilmiştir;
Değişmeyen Bölümler, Ön Kapak Metinleri ve Arka Kapak Metinleri yoktur. Lisansın bir kopyası GNU Özgür Belgeleme Lisansı sayfasında yer almaktadır. |
  
|
Bu dosya, Creative Commons Atıf-Benzer Paylaşım 3.0 Taşınmamış lisansı ile lisanslanmıştır | |
| ||
| Bu lisanslama etiketi, dosyaya GFDL lisanslama güncelleştirmenin bir parçası olarak eklenmiştir. |
Bu dosya, Creative Commons Atıf-Benzer Paylaşım 2.0 Almanya lisansı ile lisanslanmıştır.
- Şu seçeneklerde özgürsünüz:
- paylaşım – eser paylaşımı, dağıtımı ve iletimi
- içeriği değiştirip uyarlama – eser adaptasyonu
- Aşağıdaki koşullar geçerli olacaktır:
- atıf – Esere yazar veya lisans sahibi tarafından belirtilen (ancak sizi ya da eseri kullanımınızı desteklediklerini ileri sürmeyecek bir) şekilde atıfta bulunmalısınız.
- benzer paylaşım – Maddeyi yeniden düzenler, dönüştürür veya inşa ederseniz, katkılarınızı özgünüyle aynı veya uyumlu lisans altında dağıtmanız gerekir.
}
Original authors
This image was moved to Commons by de:User:Luxo (here: Luxo) with the tool CommonismNow.
- Source: de.wikipedia.org
- Image contributor(s): Paddy
- 2004-03-03T00:01:48Z UTC Paddy 512x512 (66389 bytes)
Dosya geçmişi
Dosyanın herhangi bir zamandaki hâli için ilgili tarih/saat kısmına tıklayın.
| Tarih/Saat | Küçük resim | Boyutlar | Kullanıcı | Yorum | |
|---|---|---|---|---|---|
| güncel | 17.24, 6 Mart 2007 | | 512 × 512 (65 KB) | CommonismNow | {{Information| |Description=Aufnahme eines Ausfallortes verursacht durch Elektromigration in einer Kupferleiterbahn unter dem Rasterelektronenmikroskop (REM). Die Passivierung wurde vorher durch w:de:Reactive Ion Etching (RIE) und [[w:de:Fluorwasserst |
Dosya kullanımı
Bu görüntü dosyasına bağlantısı olan sayfalar:
Küresel dosya kullanımı
Aşağıdaki diğer vikiler bu dosyayı kullanmaktadır:
- ca.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- de.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- de.wikibooks.org üzerinde kullanımı
- en.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- en.wikiversity.org üzerinde kullanımı
- es.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- fi.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- fr.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- fr.wikibooks.org üzerinde kullanımı
- it.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- ja.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- nl.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- zh.wikipedia.org üzerinde kullanımı
