Geçirimli elektron mikroskobu
Geçirimli elektron mikroskobu veya transmisyon elektron mikroskobu (İngilizce: transmission electron microscope) çok ince bir örnek içinden geçirilen yüksek enerjili elektronların görüntülenmesi prensibine dayanır. Elektronların örnek ile etkileşimleri sonucu oluşan görüntü büyültülür ve floresans ekran, fotoğrafik film katmanı ya da CCD kamera gibi bir sensör üzerine odaklanır.
Max Knoll ve Ernst Ruska tarafından 1930'larda yapılan çalışmaların sonucu ortaya çıkan geçirimli elektron mikroskobu, optik mikroskoba kıyasla çok daha küçük ayrıntıları görmeye olanak tanır.
Kaynakça
[değiştir | kaynağı değiştir]- Ernst Ruska'nın nobel törenindeki konuşması3 Mayıs 2008 tarihinde Wayback Machine sitesinde arşivlendi.
Dış bağlantılar
[değiştir | kaynağı değiştir]- Brookhaven laboratuvarı TEM bölümü31 Ekim 2007 tarihinde Wayback Machine sitesinde arşivlendi., Long Island, NY, ABD.