Küvet eğrisi
Küvet eğrisi güvenilirlik mühendisliğinde yaygın olarak kullanılmaktadır. Tehlike fonksiyonunun üç bölümden oluşan belirli bir formunu tanımlar:
- İlk bölüm: azalan arıza oranı olarak bilinen, erkenarızalardır.
- İkinci kısım: rastgele arızalar olarak bilinen, sabit bir arıza oranıdır.
- Üçüncü bölüm: aşınma hataları olarak bilinen, artan bir arıza oranıdır.
Adı, bir küvetin enine kesit şeklinden türetilir: dik kenarlar ve düz bir taban.
Küvet eğrisi, ilk tanıtıldığında erken "ilk ölümler" arızaları haritalanarak üretildi, rastgele arızaların oranı ile ürünün "yararlı ömrü" boyunca ortaya çıkabilecek sabit arızaların oranı ve son olarak, ürün tasarım ömrünü aştığı için "aşınma" arızalarının oranını tanımlar.
Daha az teknik terimlerle, küvet eğrisine iliştirilen bir ürünün erken yaşamında arıza oranı yüksektir ancak arızalı ürünler tanımlanıp atıldıkça hızla azalır ve taşıma ve kurulum hatası gibi erken potansiyel arıza kaynakları aşılır. Bir ürünün orta-yaşamında -genellikle tüketici ürünleri için — arıza oranı düşük ve sabittir. Ürünün geç ömründe, yaş ve aşınma ürüne zarar verdiği için arıza oranı artar. Birçok elektronik tüketici ürününün yaşam döngüsü küvet eğrisini güçlü bir şekilde sergilemektedir.[1]
Küvet eğrisi yararlı olmakla birlikte, her ürün veya sistem küvet eğrisi tehlike işlevini izlemez, örneğin üniteler kullanımdan kaldırılırken veya aşınma süresinin başlangıcında veya öncesinde kullanımı azalmışsa, ünite takvim süresi başına daha az hata gösterir (birim kullanım süresi başına değil) küvet eğrisinden daha fazladır.
Güvenilirlik mühendisliğinde, bir küvet eğrisine karşılık gelen kümülatif dağılım fonksiyonu, bir Weibull çizelgesi kullanılarak analiz edilebilir.[1]
Ayrıca bakınız
[değiştir | kaynağı değiştir]- Gompertz-Makeham ölümün yasası
Kaynakça
[değiştir | kaynağı değiştir]- ^ a b Fundamentals of Electronic Systems Design. Springer International Publishing. 2017. s. 54. ISBN 978-3-319-55839-4.
Konuyla ilgili yayınlar
[değiştir | kaynağı değiştir]- Klutke, G.; Kiessler, P.C.; Wortman, M. A. (Mart 2003). "A critical look at the bathtub curve". IEEE Transactions on Reliability. 52 (1): 125-129. doi:10.1109/TR.2002.804492. ISSN 0018-9529.