Single event upset
Mikroişlemci, hafıza birimleri, transistörler gibi yarı iletken devrelerde oluşan hal değişimine Single event upset (SEU) denir. İyonların veya elektro-manyetik radyasyonun cihazın hassas bir noktasına çarpması sonucu oluşan anlık enerji artmasından kaynaklanır. SEU bir yumuşak hata çeşididir. Bu konuyu araştırmaya daha yatkın hale getirmek için kullanılan yumuşak hatanın alt sınıflarından birisidir. Yumuşak hata gibi donanımda kalıcı hataya sebep olmayan ve sadece bir kez gerçekleşen bir hatayı temsil eder.
SEU için devre tasarımı
[değiştir | kaynağı değiştir]Devrede oluşacak SEU'lar için yumuşak hata için alınan yöntemler kullanılabilir. Bunlardan bazıları;
- Hamming kodu
- Reed–Solomon hata düzeltmesi